descrizione dettagliata:

Polyk Technologies ha sviluppato un sistema di misura dielettrica spettrale in campi elettrici elevati, che meglio risolve il problema della risposta dielettrica non lineare.

Risposta dielettrica non lineare:
-Quando si misura la costante dielettrica tramite misuratore LCR o analizzatore (Agilent/Keysight 4284A, E4980A, 4294A), la tensione di carico è solitamente intorno a 1V; Tuttavia, molte ceramiche piezoelettriche (PZT) e polimeri (PVDF) presentano risposte non lineari al campo elettrico applicato; Di solito, la loro costante dielettrica e il fattore di perdita diventano più bassi sotto alta tensione.
-In molte applicazioni, come condensatori e driver, che operano in campi elettrici elevati con strati dielettrici> 10V/um o 100V/um, la loro costante dielettrica effettiva e la perdita tan δ sono molto inadatti per i valori di misura @ 1Vrms nei normali misuratori LCR e analizzatori di impedenza.
-Caricare direttamente un segnale ad alta tensione durante i test dielettrici comporta un rischio significativo di danni ai costosi misuratori LCR se il campione sperimenta improvvisamente un guasto dielettrico.

Pertanto, Polyk Technologies negli Stati Uniti ha sviluppato questo sistema di misura dielettrica a banda larga, che evita efficacemente il verificarsi dei problemi sopra menzionati.

Specifiche tecniche:
1) Tensione massima: ± 4000V;
2) Corrente massima: ± 20mA;
3) Gamma di frequenza: 100Hz a 1MHz;
4) Gamma del condensatore: 100pF a 100nF;
5) Intervallo di temperatura: - 184℃ a 250℃;

6) Camera di controllo della temperatura: - 75℃ a 200℃; (Facoltativo)

7) Camera di controllo della temperatura: temperatura ambiente a 1000 ℃; (Facoltativo)
8) Gamma a banda larga: da 20 Hz a 1 MHz o 110 MHz, O da 0,01 Hz a 1 MHz (relativo all'analizzatore di impedenza equipaggiato); (Facoltativo)
9) Grande unità di segnale AC; (Facoltativo)

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