v Tecnologia leader mondiale e brevetti nazionali originali
v Possibilità di test funzionali unilaterali, standard, multi-segmento e punteggio del filo
v Resistenza di conduzione raggruppabile separatamente, resistenza di conduzione puntuale unilaterale
v La punteggiatura può essere impostata separatamente per il valore di sensibilità e il colore della singola linea
v Capacità massima misurabile500μFCapacità misurabile e PO POSITIVO-NEGATIVO
v Giudizio accurato di cortocircuito e scarso circuito aperto
v Velocità di test complessiva del sistema raddoppia rispetto ai prodotti tradizionali
v Fornire avanzatoUSBeRS232Interfaccia,E può essere conPCOperazioni online
v Materiali speciali e processi di fabbricazione, isolamento meno influenzato dall'aria umida
v Il sistema fornisce report statistici e funzionalità di stampa
v Il sistema fornisce una buona funzione di conteggio dei prodotti in base alle esigenze di quantità di imballaggio del prodottoImpostazione degli avvisi per il conteggio dei beni testati
v Progettazione hardware-software autonoma per personalizzare ulteriori funzionalità in base alle esigenze del cliente
v Inglese con un clic
Specifiche tecniche SPECIFICATION
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misurazione Quantità ora camera Test time |
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interrotto/cortocircuitoOpen/short |
Veloce(4ms/successivo/128Punti),Lento.(8ms/successivo/128Punti) |
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Resistenza conduttivaCond |
Veloce55successivo/Secondi,Velocità media45successivo/Secondi,Lento.30successivo/Secondi0.2s/64net(standard)Riferimento |
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Resistenza isolanteInsulation resistance |
Un paio di altri.3.6s/128net(0.01s)Metà veloce0.4s/128net(0.01s) 0.01Secondi...60Secondi impostazioni selezionabili |
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Alta pressione di comunicazioneAC High Voltage |
Un paio di altri.9.5s/128net(0.01s)Metà veloce0.9s/128net(0.01s) 0.01Secondi...60Secondi impostazioni selezionabili |
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istantaneo/Interruttura ad alta velocità INT Time |
0Secondi...99Secondi Impostazione0Secondi per tempo infinito
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misurazione Prova. riferimento NumeroTest parameters |
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Elementi occhioProject |
SimboloSymbol |
Scopo di provaTest range |
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interrotto/cortocircuito |
O/S |
1KΩ~100KΩ |
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Test di resistenza di conduzione |
COND |
1mΩ~50Ω |
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Misura della resistenza |
R |
0.1Ω~5MΩ |
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Misura della capacità |
C |
10pF~1000μF |
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Misura del diodo |
D |
0.0V~7.0V |
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Impedanza isolante |
I.S |
0.1MΩ~1000MΩ |
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Corrente di perdita di corrente continua |
IL |
1μA~1000μA |
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Corrente di perdita ad alta tensione |
IL |
0.01mA~5mA |
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Impedanza di guida istantanea |
INT.COND |
1mΩ~50Ω |
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Rapido istantaneo |
INT.OPEN |
0.4ms |
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Interruzione immediata |
INT.O/S |
2ms/64pinSensibilità |
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Regolamento Grid dire chiaro Specifications |
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Modalità di scansione di prova Scan Mode |
Automatico/manuale/Continuo/Scansione esterna commutabile |
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Mostra/Dispositivo di allarme acusticoWaming device |
Pass/Fail LEDIndicatore rosso-verde/Mostra schermo/Polizia vocale320*240LCDDisplay LCD, blu/Fondo bianco intercambiabile |
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Dispositivi di memorizzazione |
Costruito512KB SRAM,Scalabile1024KB |
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DimensioniSize |
(W×D×H)425×190×350mm |
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PesoWeight |
Circa14kg(Senza accessori)
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Seleziona Acquisto Indicatore SudSelection Guide |
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Modello di prodotto
Product Type |
Numero di punti di misura
Test Points |
Misura della tensione
Test Voltage |
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LK-5800D |
64pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800F |
64 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800N |
128pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800N2 |
256pin |
DC:5~1000V |
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LK-5800NA |
128 pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800NA2 |
256pin |
DC:5~1000V,AC:100~800V |
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LK-5800FA |
128 pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
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LK-5800FA2 |
256pin |
DC:5~1500V,AC:100~1000V |
