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Leica DCM8- Microscopio di misurazione superficiale - Microscopio di interferenza confocale a colori
Tecnologia brevettata di analisi morfologica superficiale dual core - Leica DCM8 - misurazione rapida non distruttiva della struttura micro nano 3D. U
Dettagli del prodotto
Tecnologia brevettata di analisi morfologica della superficie dual core–Leica DCM8
Un metodo veloce e non distruttivo3DMisura della struttura micro nano.
Analisi della morfologia utilizzando la tecnologia di microscopia confocale,La tecnologia di interferenza garantisce alta precisione, elevata ripetibilità e alta velocità dei dati.
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