SPM Aarhus 150
Estremamente stabile e versatile SPM Aarhus 150 SPECS, adatto per applicazioni di microscopia a sonda di scansione finale

SPM Aarhus 150 è uno strumento molto stabile e che consente di risparmiare tempo. Una piattaforma di scansione a temperatura variabile di massa appositamente progettata da 3 kg con dispositivo di raffreddamento integrato a basso rumore ad azoto liquido (LN2) assicura prestazioni SPM eccellenti. Particolare attenzione dovrebbe essere prestata alla separazione del refrigeratore di flusso dalla fase di campionamento, ma garantendo un collegamento permanente di raffreddamento tra di loro. A questo scopo, una treccia flessibile specializzata del filo di rame viene utilizzata per collegare la piattaforma dello scanner sovrappeso al termostato a bassa temperatura di flusso senza compromettere l'eccellente stabilità di SPM Aarhus. Lo stretto contatto meccanico e termico tra il supporto del campione e lo stadio SPM consente un controllo della temperatura estremamente preciso e la stabilità del campione. A temperature inferiori a 130K, il tempo di raffreddamento tipico è inferiore a 60 minuti. L'intervallo di tempo tipico dall'inserimento del campione a temperatura ambiente alla preparazione del SPM inferiore a 130 K è di 20 minuti. Per aumentare la temperatura, anche ad alte temperature fino a 400 K, il campione può essere riscaldato. Due consumi possono essere raggiunti durante il processo di raffreddamento rapido dalla temperatura ambiente al termostato a bassa temperatura e durante il funzionamento. Durante il periodo di raffreddamento iniziale vengono consumati circa 20 litri di LN 2, mentre un LN 2 tipico consuma circa 10 litri all'ora durante il funzionamento a 130 K. KolibriSensor, KolibriSensor, KolibriSensor ™ Aggiorna facilmente SPM Aarhus 150 a AFM. SPM Aarhus 150 ha stabilito un nuovo standard dimostrando la massima stabilità termica a temperature variabili tra 90 e 400K senza compromettere la sua stabilità meccanica originale. I canali ottici diretti in situ consentono lo studio dell'illuminazione del campione e dei processi indotti dalla luce. Inoltre, la porta di evaporazione consente la deposizione in situ sulla superficie del campione e lo studio dei processi di crescita durante la scansione.
SPECIFICHE
flangia di montaggio | 150CF |
elettronica di controllo |
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Stabilità della temperatura | Meglio di ± 2 K (150 K... 400 K) |
Intervallo di sensibilità z | ± 175 nanometri |
deriva | <0,05 nm/min (verticale)< 0,15 nm/min (latitudine) |
stabilità | <22 pm |
Visite in loco | Riflessione dello specchio ed evaporazione |
Intervallo di scansione | 1.500 nanometri x 1.500 nanometri |
controllo della temperatura | Due sottosistemi controllati per campioni e scanner |
MODO |
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SENSORE |
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Opzioni |
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Accessori richiesti |
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Pressione di esercizio | 10 -11Fino a 10-7mbar |